安柏 AT513 方阻测试仪

概览

• AT513 四探针方阻测试仪器，采用高性能 ARM 微处理器控制的全自动实时检测的微型台式仪器。仪器采用全彩的 LCD 显示屏，全数字键盘，搭配安柏仪器操作系统，使显示更清晰，操作更方便。

• AT513可根据长度（0~10000mm），宽度（0~10000mm），间距（0~10000mm）算出F值功能。

• AT513可在内部存储 10 组设置，外部 USB 磁盘也可存储 10 组设置，方便不同规格调用。

• AT513四探针方阻测试仪标配 LAN接口、RS-232接口和RS-485 接口，使用 SCPI（Standard Command for Programmable Instrument 可程控仪器标准命令集）和 Modbus RTU 协议与计算机、PLC 或 WINCE 设备进行通讯，高效完成远程控制和数据采集功能。

特征

• AT513四探针法通过将电流和电压测量分开，消除了接触电阻的影响，从而提高了测量的精度。还能减少背景信号的干扰，特别是测量低电阻率材料时，背景信号的影响会被显著降低。

• 四探针法仅需在样品表面轻轻接触，不会对样品造成物理损伤，适用于各种敏感材料的测量。

• 四探针法适用于各种材料，包括金属，半导体，绝缘体和复合材料。特别是对于薄膜材料，四探针法能准确的测量其电阻率，不受样品厚度影响。

• 仪器具有 2%的电阻率准确度，测量范围可到 200kΩ。

规格

应用

• 测量‌薄层（或薄膜）材料的方块电阻‌




• 表征薄膜材料导电性能的方块电阻（Sheet Resistance, Rs）




• 适用于片状或块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层、




• 太阳能等材料的测试




• 测量柔性材料导电薄膜、




• 金属涂层或陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层材料的电阻率/方阻