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是德科技XP6级光学偏振与色散仪器 N7780C系列。
是德科技XP6系列光学偏振与色散仪器 全面的控制与分析能力。它们具备高速实时偏振合成、分析、扰码功能,并能测量偏振相关损耗与色散——这些关键指标对于光学元件及子系统的高性能表征与验证至关重要。该仪器 干涉测量、偏振对准、元件表征及传输系统测试。 根据所需功能及输入功率范围选择光学偏振与色散仪器。您可选用热门预设配置,或根据应用需求定制专属方案。
实现对极化状态的完全控制,用于对光纤、调制器和光子元件进行精密测试。
通过高达1 MSa/s的采样速率和高达100 krad/s的偏振状态(SOP)切换速度,捕捉快速变化的偏振效应,实现动态分析。
基于环路网络压力测试的电同步SOP变更,兼具时间精度与行为复现能力。
每台仪器集多种功能于一体(扰频器/稳定器、偏振仪/控制器),以更少的仪器提供更多功能。
功能性
偏振合成器,偏振分析仪,同步扰码器,偏振计
输入功率范围
-38 dBm to +19 dBm, -50 dBm to +7 dBm, < +20 dBm
波长范围
1240 nm 至 1650 nm
插入损耗
4.0 分贝 至 5.0 分贝
极化不确定性状态
1.5° 至 2
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