瑞典Pendulum HRE 系列 EMC 高分辨率扫描仪

HRE系列有两种不同的尺寸，以适应大多数DUT的需要。25μm的超高扫描分辨率与探头旋转相结合，以及一流的扫描软件，HRE系列可以提供功能强大的可视化EMC预兼容扫描测试。可选的 IC 扫描测试套件配有专用的检测摄像头和高分辨率近场探头，让您甚至可以扫描 IC芯片 内部的电磁干扰信号发射和抗扰度热点。

一个完整的扫描仪系统由 EMC 扫描仪硬件套件、Detectus 扫描软件 （DSS）、频谱分析仪和运行扫描仪软件的 PC 组成。如果客户需要，Pendulum Instruments可以提供全部系统，但通常情况下客户已经拥有自己的 PC 和频谱分析仪。

将测试对象放在扫描坐标板上，一个小型近场探头按照扫描软件设定并可重复的路径在测试对象上方进行移动扫描，同时记录场强。在每个扫描位置上近场探头输出的信号由频谱分析仪测量，并传输到扫描仪软件。扫描系统软件将空间位置信息（X，Y，Z）与该位置的电磁辐射信号的频谱相结合，并显示详细的结果。

扫描仪的步长为 25 μm，可以在模块包装内部精确定位发射源，甚至通过使用 IC测试选件来却确定 IC 内部的电磁辐射信号热点

您可以使用Pendulum Instruments标准近场探头套件扫描直到10 GHz频率范围的电磁辐射信号。如果用户拥有更高的频率，例如70 GHz，的近场探头，那们在通常情况下EMC扫描仪也可以连接使用这些探头进行扫描，扫描仪软件没有频率范围的限制，但客户的频谱分析仪需要能够支持这些探头更高的频率范围。

在 Detectus HRE 系列扫描仪中，您可以选择两种不同的扫描尺寸，带或者不带探头旋转，以适合大多数的测试对象。扫描区域 （WxDxH） 如下所示：

280x180x85mm (3D or 4D*)

390x290x130 mm (3D or 4D*)

* 4D = 3D xyz movement, plus probe rotation 0 to 360o