维度 BINNA2自动光纤端面干涉仪

BINNA2是维度科技研发的一款自动检测干涉仪，该设备继承了维度科技多年的干涉仪丰富经验，在SANA2的基础上增加了自动对焦和自动校对等功能，是单芯干涉仪功能集大成者。 BINNA2采用全新的软件设计、全新的夹具平台结构和夹具结构设计,进一步提升了设备的抗震能力； 夹具的使用寿命以及测量稳定性也空前提升。

光纤高度达 -1000~1000nm
角度自动调节
自动对焦、自动校对、一键测量
0.5s 完成单个连接器测试
抗震性能力强

主要应用

-1000~1000nm 光纤新高度

BINNA2 自动检测干涉仪采用全新光路设计， 光纤高度测量范围高达 -1000~1000nm，适合各种复杂工况的使用。

BINNA2 干涉仪夹具采用全新设计，安装在干涉仪上后无需做任何硬件调整，只需在软件界面上点击”图像居中”按钮，软件将自动导引完成定位光标的定位工作。

BINNA2 夹具平台正面配备了一键测量快捷键，夹具锁紧感应结构能够自动获取当前夹具的锁紧状况，在每次夹具锁紧时软件进行自动测量。

BINNA2 采用维度最新的软硬件平台，在 SANA2 的基础上增加了自动对焦和自动校对等功能，让整个测量过程 100% 自动完成。

BINNA2 优秀的软硬件设计极大的提高了测试的速度，能够在 1.5s 内完成 包含端面分析与表面形貌测量的工作，最快可在 0.5s 内完成单个连接器的测试。