理学波长色散型X射线荧光光谱仪 ZSX Primus IVi

理学波长色散型X射线荧光光谱仪 ZSX Primus IVi

ZSX Primus IVi 具有一个30微米的铍窗的X光管，这是业内最薄的铍窗，具有卓越的轻元素检测限。

提高通量

通过高速数据处理和各驱动部的高效控制提高了通量。 对于水泥样品 （加压成型样品）中16种元素的定量分析， 缩短约18% （与本公司相比）， 增加了单位时间内处理的样品数量。

D-MCA高速分析

数字多通道分析仪（D-MCA）系统有助于高速数字处理，实现高计数率，从而提高分析精度和计算速度。

光学系统不易受到样品表面高度变化的影响

不平整的样品表面会导致样品和X射线管之间的距离变化。这些差异可能导致X射线强度的变化。Rigaku光学系统能够抑制由距离变化引起的X射线强度变化。这使得制备玻璃熔 片的坩埚形状的差异以及粉末样品加压成型时样品表面的不平整的影响减少， 从而能够进 行准确的分析。

精准的SQX分析

SQX分析是用于精确计算元素组成的无标准FP分析软件。现在比以往任何时候都更易于使用。

自动芯线清洗机构

F-PC探测器芯线逐渐被气体污染，从而降低分辨率。芯线清洁机构通过电加热消除芯线污染，无需关闭电源或打开机柜，从而恢复性能。

特征

辅助测量和分析支持：ZSX Guaidance—自动化分析设置功能增强的第三代SQX分析软件

ZSX Guaidance软件—内置XRF专业知识可处理复杂的设置。可用的应用程序包支持交钥匙操作。

可编程的直观软件，用于使用样品托盘进行日常分析—每个托盘的样本ID设置（便于轻松复制和粘贴，以实现高效的测量设置）。

提高了液体样品分析的准确性—校正由液体样品杯的几何形状引起的几何形状效应。

高速、高精度测量—采用新驱动有效的降低了仪器运行时间

独特的功能—下照式光路结构实现了方便的功能，包括新样品膜校正。