安柏 AT58612 薄膜电容充放电测试系统

概览

• AT58612电容测试系统，应用于电容器生产厂家、电容器使用单位以及电容器检测计量单位，可进行DV/DT测试。 其方法是先对被测电容器充电，在电容器快速放电过程中测量 DV/DT 值。其信号电压、频率、放电电阻可根据需要进行设置，将该信号施加于被测电容器的两端，设置好试验周期，对电容器进行连续的试验，并在试验过程中，对电容器的温升、容量及损耗进行不断的监控和记录。最后，根据电容器的温升情况和容量、损耗的变化评判电容器是否符合要求。 用这种方法进行检测，无论是材料的特征（极化特性），还是结构设计的不同（极板电阻）以及损耗的差异，都可以通过电容器的温升、容量损耗的变化直观的反映出来。

特征

• ● 电容器快速放电过程中测量 DV/DT 值。

• ● 信号电压、频率、放电电阻可根据需要进行设置

• ● 对电容器的温升、容量及损耗进行不断的监控和记录，根据电容器的温升情况和容量、损耗的变化评判电容器是否符合要求。

规格

应用

• 电容器快速放电过程中测量 DV/DT 值