日本NF ZM2371LCR测试仪

产品介绍

ZM2371 LCR测试仪

ZM2372  配备提高合格率、筛选效率的功能
高速测量  快2ms 
测量时间可切换为RAP、FAST、MED、SLOW、VSLO 共5档。 
如果设定为RAP，则能够进行2ms（1kHz）、10ms（120Hz）的高速测量，有助于缩短生产线、检查线中检查/筛选零部件的时间。
高精度  基本精度0.08％，分辨率高6位数 
测量的基本精度为0.08％的高精度，显示分辨率高6位数，在主要测量范围内实现5位数高分辨率。能够满足生产线、检查线以及研究开发现场的精度要求。 
高分辨率  测量频率  1mHz～100kHz、分辨率5位数 
能够在1mHz～100kHz的宽范围内，用5位数的分辨率设定频率。能够测量和评价被测样品详细的频率特性。 
宽广的测量信号电平  大5Vrms 
能够在10mVrms～5Vrms的宽范围内，用3位数的分辨率设定信号电平，便于测量信号电平依存度较强的零部件。 
内置DC偏置用电源  大2.5V 
内置0～＋2.5V（分辨率0.01V）DC偏置用电源。能够测量电解电容器之类极性零部件和半导体的接合容量。 
4端子的接触检查功能（ZM2372 ） 
装备了接触检查功能，以防止测量端子前端部和零部件之间接触不良造成的错误测量、错误筛选。使用4端子进行接触检查，发生接触不良时，不进行测量、筛选，而判断为接触不良。有助于提高检查合格率。

 丰富多彩的功能  配备了各种便捷的使用功能
恒压/恒流驱动(ALC)  能够施加恒定的电压/电流信号，因此对于特性会随信号电平而变化的被测样品，也能够稳定地进行测量。
DC测量   
能够使用DC进行测量，便于测量变压器、线圈等的直流电阻值。
比较   
多14种分类(BIN)、筛选零部件，也能够判断上下限。判断结果被输出到处理机接口（ZM2372）。
ZM2371∶多9种，ZM2372∶多14种
偏差测量   
通过预置被测零部件的额定值，能够显示与额定值之间的偏差(或者偏差％)
触发同步驱动
通过接触零部件后输出信号，能够减少测量大容量电容器时的接点损耗。
设定值和校正值存储
能够保存/恢复32组设定条件和校正值。更换生产线中的零部件(测量)时，也能够迅速应对。 
应用软件
遥控与数据收集用的应用软件