ADCMT 8252 数字电位器

数字电位器

8252

• 直流电压测量：3 V～200 V量程，最小分辨率10 μV

• 直流电流测量：30 pA～30 mA范围，最小分辨率1 fA

• 电阻测量：3 kΩ～200 GΩ范围，最小分辨率10 mΩ

• 电荷测量：1 nC～10 μC范围，最小分辨率1 fC

•  ±200 V的电压发生功能

• 通过施加电压电阻测量，可测量^2×1017 Ω

• 凭借各种扫频测量功能，非常适合各种设备评估。

8252是一款具有±200 V电压发生功能的5½位高性能数字电容计。 能够测量1 fA的电流，在±210 V范围内测量2×10¹⁴ Ω的高输入阻抗电压，测量210 GΩ的电阻，测量1fC的电荷等。

此外，通过具备各种扫频功能的电压发生器，非常适合各种器件和材料的评估。在电流测量方面，采用积分方式（ICV），具有抗感应噪声能力，并且能够进行高速测量。

此外，在绝缘电阻测量中，通过VSRM（施加电压电阻测量）功能，可测量2×10^17 Ω。

• 线性扫描测量
  用于测量二极管、FET 等半导体的 I-V 特性

• 随机扫频测量
  用于与随机电压发生器同步的高速测量

• 防止因电缆振动产生的噪声，低噪声双同轴（三轴）电缆的输入电缆

• 采用抗噪积分方式
  - 相比传统反馈方式，改善了抗噪性能的积分型电流-电压转换器
  - 实现了高动态范围，可实现高降噪率（可消除满量程2～3倍的噪声）的AD转换器
  - 积分时间可变，范围为1 ms～1 s

• 通过移动平均去除噪声的平滑功能 

能够高速测量高阻抗信号源电压和电阻的驱动保护功能

在电压和电阻测量中，当信号源电阻或被测电阻较大时（100 MΩ以上），由于电缆的电容以及Hi-Lo端子之间的浮动电容，响应速度会变慢。例如，当信号源电阻为1000 MΩ，电缆电容为100 pF时，根据此时的100 ms时间常数（t=100 ms），响应达到最终值的±0.1%以内所需的时间约为700 ms。8252采用了驱动保护方式来改善这一响应速度，通过将输入电缆内部的屏蔽层驱动至与输入电压相同的电位，使得从Lo端子看时的阻抗看起来为零。此外，通过电缆和连接器从测量输入端子流向Lo端子的漏电流也会减少，从而使表观绝缘电阻也更高。利用这一功能，响应速度可提高10倍以上。

通过驱动保护进行的测量：
当进行驱动保护时，输入电缆的芯线与内部屏蔽层处于同电位，输入电缆的电容CX1会被忽略。此外，由于内部屏蔽层与外部屏蔽层之间的阻抗较低，CX2也会被忽略。

检测接触不良的接触检查功能

8252通过接触检测功能，能够检测测量电缆与样品或测量电极、夹具与样品之间的接触不良。该接触检测功能在DCI功能30 pA～300 μA范围内，在正常模式下每次测量时，以及在扫描模式下扫描开始时，通过测量测量输入端子与LO端子，或电压发生端子之间的电容来进行判断。 

最适合线用操作员的控制器接口和通过/失败判定功能

8252除了配备GPIB和TRIGGER、COMPLETE、INTERLOCK的单线信号外，还标配了用于与自动化设备接口的处理器接口。此外，它具备比较运算功能，结合接触检查功能使用时，能够输出反映比较判定结果和接触检查结果的PASS/FAIL信号。在电容漏电测试、绝缘电阻测试等场景中，能够实现高速自动分选。

1台完成VSIM+DCV/DCI测量或ISVM+DCV/DCI测量

±200 V电源配备了10 μA分辨率的电流限制器（设置范围：0.1 mA～12 mA），可分别设置正负极。此外，还支持100 μV分辨率的电压监测和100 nA分辨率的电流监测。当电流测量在100 nA～12 mA范围内时，仅使用OUTPUT端子即可进行VSIM测量，无需使用INPUT端子。此外，还支持使用电流限制器（设置范围：0.1 mA～12 mA）和电压监测进行ISVM测量。通过将INPUT端子设置为DCV或DCI功能，一台设备即可完成两台设备的测量。

用于高阻抗信号源的电压测量

用于高阻抗信号源的电压测量

用于绝缘电阻测量

8252除了最大值、最小值、平均值等运算外，还具备积分功能。通过积分功能和固定扫频功能，可以测量长时间内的电流积分值（最长可达83小时）。在电解、电镀实验等中，它能有效计算一定时间内的流过电荷量。

• 电解分析

• 电镀

• 定电位电解

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